简要描述：Excipolar SHG二次谐波测试系统，二次谐波成像系统
•采用保偏共焦光路，实现精密同轴与高重复性对位
•集成成像、光谱与偏振检测，支持同步采集与联合分析
•采用基频抑制技术，显著提升信噪比并降低背景干扰

Excipolar SHG 二次谐波显微与表征系统，二次谐波成像系统

专为非线性光学、二维材料、铁电/压电器件、半导体晶体与生物胶原成像等应用而设计。

Excipolar SHG 以飞秒/皮秒激发配合保偏共焦成像链路，结合分色/滤色与高灵敏探测，实现样品二阶非线性极化率 χ(2) 的成像与定量表征。系统集成自动化偏振控制与功率/响应标定，在提升收集效率、抑制基频背景的同时降低仪器误差；可一键完成晶体对称性与主轴判定、畴/各向异性映射、层数识别以及应力与取向分析，并与拉曼/PL共轴联用，将成像、光谱与偏振测量整合为一站式流程。

SHG方案示意图

二次谐波测试系统主要特点

• 保偏共焦光路：激发—收集全链路保持偏振态，适配偏振依赖的 SHG 测量。

• 成像×光谱联动：同一视场内 SHG 显微与光谱一键切换；框选区域即可自动采谱与统计。

• 自动化偏振分析：电动起偏/检偏与波片扫描，生成偏振玫瑰图与 P-SHG 曲线，支持 χ(2) 张量与点群拟合。

• 强度/响应双标定：功率归一与仪器响应校正并行，降低系统误差，保证不同批次/样品间可比性。

• 多几何测量：反射、透射与表面-SHG 自由切换，支持角分辨与 Z-扫描获取相位匹配与界面信息。

• 共轴联用：与 Raman/PL 共轴，光路无需重调，图谱互证，形成一站式表征流程。

• 高效分色与滤光：强抑基频、优先透过二次谐波，显著提升信噪比与弱信号可见度。

• 预览与对位友好：相机通道实时预览、微区对位与大视野拼接；兼容二维材料转移/表征平台。

• 流程化软件：一键测量、批处理与报告导出，内置脚本接口，便于自动化与二次开发。

• 安全与扩展：功率联锁与低剂量工作流确保样品安全；可选 THG/EFISHG、温控、电场/应力加载等模块即插即用。

二次谐波测试系统，二次谐波成像系统应用领域：

• 二维材料：层数与对称性判定、晶轴与扭角测量、畴结构与应力-取向映射

• 铁电/压电器件：畴结构与反转边界成像；外加电场下的原位 SHG 变化

• 半导体/光子器件：LN/GaN/AlN 等晶体取向与界面质量评估

• 表面与界面：吸附/功能化/氧化过程的原位 S-SHG 动态监测

• 生物与软物质：胶原等无需染色的结构成像与各向异性分析

CdSe在1550nm激发下的SHG强度图